VIC-3D 测量模块
立体显微模块
立体显微测量系统主要用于MEMS微机电、电子器件、生物医学、材料分析等领域。
三维数字图像相关技术由于精度高，稳定性强和易于使用，广泛应用在应变测量中，但在微小样品上进行高放大倍率的3D测量还非常困难，立体显微测量克服了景深的局限性，然而其内部构造阻碍了使用传统方法进行图像相关计算应变，例如显微镜的光学失真以及尖锐的噪点波形等都非常难以解决。
为了解决该问题，Correlated Solutions,Inc.,开发了简单易用的校正方法使其不再受传统的变形困扰，该校正方法计算立体显微镜非参数变形区域，然后在测量中校正该变形对应变的干扰。
* 该技术在美国专利号：US 7,133,570 B1 获得日期：2006年11月7日
立体显微模块特点：
全场位移与应变测量
自动校正、强大的可视化工具
通过用户定义直线从3D数据上提取数据
后处理工具可以做统计分析，应力应变图等
方便导出数据到FLEXPortTM数据工具
数据可导出为Tecplot/Plain ASCII, Matlab和STL等格式
可以轻松提取节点数据进行有限元验证
显微测量参数表：
视场范围(FOV)：0.8mm-7mm
面内位移精度：±10nm
离面位移精度：±120nm
应变精度：±0.01%
帧率：高达2000fps
行程：100mm*100mm*50mm X*Y*Z
三项云台步进：1μm
相机分辨率：VGA,1MP,2MP,5MP
计算机控制电动云台：3向
数字相关处理速度：80,000 pts/s
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